XGT-1700WR

分析原理

能量色散X射線熒光分析法

分析元素

Si～U(Cd/Pb高精度型)
Na～U(φ1.2 mm/φ3 mm切換方式型)

檢出下限(Cd/Pd)

Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm

樣品形狀

zui大460×360 mm(高150 mm)

樣品室氣氛

大氣

X射線管

靶材

Rh

管電壓

zui大50 kV

管電流

zui大1 mA

X射線照射徑

Φ3 mm
(同時搭載：φ1.2mm )

檢測器

高純硅檢測器 XEROPHY

液氮罐容量

3升

液氮消耗量

每日1升以下(不開機時不用)

光學圖像觀察

倍率 50倍(X射線同軸)

軟件

定性分析：自動定性或手動定性

定量分析：檢量線法

照射直徑3mm時
基礎參數法 (1)標準法 (2)1點校正

計算機

CPU

Pentium IV 1.8 GHz 以上

內存

1GB 以上

硬盤

120 GB 以上

OS

Windows XP

監視器

17寸 CRT(任選：17寸  LED)

打印機

彩色噴墨打印機

周圍溫度

10～35 ℃(性能溫度)/ 5～40 ℃(動作溫度)

周圍濕度

5～31 ℃時溫度范圍：zui大相対濕度80 %以下
31～40 ℃時溫度范圍：相対濕度50 %以下

電源

AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz

消耗電力

1.3 kVA 以下(含計算機、CRT、打印機)

設備重量

約 265 kg(不含桌子、計算機)

外形尺寸

分析單元

610(W)×750(D)×500(H)mm

信號處理單元

220(W)×500(D)×480(H)mm